關(guān)鍵條件： 試驗箱需精確控制溫度在高低溫極點（如-55℃至+125℃）之間進行多次循環(huán)。對溫變速率（如每分鐘10℃以上）、各溫度點停留時間均有嚴格規(guī)定。試驗箱的均勻性和穩(wěn)定性至關(guān)重要，確保待測芯片整體處于同一應力水平。

關(guān)鍵條件： 試驗箱需長時間維持一個精確的、穩(wěn)定的高溫環(huán)境（如125℃或150℃），并持續(xù)數(shù)百至上千小時。試驗箱的長期溫度控制精度和可靠性是測試有效性的基礎。

關(guān)鍵條件： 在特定高溫下（如150℃），對芯片施加遠高于正常工作的柵極電壓。試驗箱需提供潔凈、穩(wěn)定的高溫環(huán)境，避免外部污染干擾測試結(jié)果。